基本信息
标准名称: | 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 |
英文名称: | Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers |
中标分类: | 能源、核技术 >> 核仪器与核探测器 >> 核仪器与核探测器综合 |
ICS分类: | 能源和热传导工程 >> 核能工程 >> 核能综合 |
替代情况: | GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989 |
发布部门: | 国防科学技术工业委员会 |
发布日期: | 2003-07-07 |
实施日期: | 2004-01-01 |
首发日期: | 1989-10-14 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 国防科学技术工业委员会 |
提出单位: | 全国核仪器仪表标准化技术委员会 |
归口单位: | 核工业标准化研究所 |
起草单位: | 核工业标准化研究所 |
起草人: | 熊正隆 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2004-04-09 |
页数: | 26页 |
书号: | 155066.1-19982 |
适用范围
本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。
本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 能源 核技术 核仪器与核探测器 核仪器与核探测器综合 能源和热传导工程 核能工程 核能综合